BM8500電路板故障檢測儀特點：

 

集成電路及電路板的標(biāo)準(zhǔn)測試功能
數(shù)字及模擬集成電路的功能測試
動態(tài)及靜態(tài)測試
適合單點量測
自動化測試程序
可由使用者設(shè)計的操作軟件

 

BM8500電路板故障檢測儀簡介：

 

英國ABI公司的BM8500是一個獨特的多功能且易于使用的獨立測試系統(tǒng). 它提供了全面性電路板檢測功能, 可幾乎含蓋了任何類型的電路板的檢測能力.

 

無論在電路板的設(shè)計驗證, 生產(chǎn)測試, 半導(dǎo)體器件測試, 生產(chǎn)或是一般維修保養(yǎng), 以及是否你的電路板是模擬還是數(shù)字的電路板, 或者是混合型的電路板, BM8500都會是最終極的診斷工具.

 

針對您所有的測試要求所提供的完美解決方案...

 

對于現(xiàn)今電子業(yè)界的快速變化，求新、求變的市場需求特性，無論是工作在設(shè)計，生產(chǎn)，試驗或故障的情況都在向電子工程師提出了各項的挑戰(zhàn)。電子電路變得更快，更小，更便宜和更復(fù)雜。在測試和維修的成本效益也變得相對性的提高很多。因此，您的測試設(shè)備是否能因應(yīng)你的需求，而來挑戰(zhàn)這一連串爆發(fā)性的技術(shù)改革變化。如果你了解到的這個問題，你已在尋求解決方式的路上了

 

盡管目前的電子技術(shù)日新月異，但其故障情形的基本性質(zhì)仍是相同的。故障的集成電路(ICs) 它會無法正常動作的.，故障的二極管會呈現(xiàn)開路或短路的狀態(tài)，故障的電容器有時會呈現(xiàn)短路的故障現(xiàn)象�，F(xiàn)今會造成電路板上焊橋的情況跟10年前的是相同的情形。但今天我們必須快速的找到這些故障點。 “具高經(jīng)濟(jì)效益的維修工作” 的重心并不在于能不能修復(fù)電路板，而是在于需要花費多少的時間以及人力來修復(fù)一片電路板。

 

以經(jīng)濟(jì)學(xué)來說，維修費用也必需包括其測試設(shè)備。而 BM8500在其廣泛的應(yīng)用上具有相當(dāng)高的成本效益。它包含了一個完整的高規(guī)格儀表控制軟件，且易于工程師來操作應(yīng)用。硬件是安裝在一個堅固的機(jī)箱內(nèi)，并包含了一個高規(guī)格且以微軟的Windows為操作系統(tǒng)的PC。而BM8500是一個模塊化系統(tǒng)，因此可以為特定應(yīng)用進(jìn)行客制化的配制。

 

數(shù)字集成電路測試功能模塊(BFL)

 

在BM8500中提供了兩個數(shù)字集成電路功能測試模塊,其具有128個量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試).集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測試功能.

 

 

 

模擬集成電路測試功能模塊 (AICT)

 

在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路 (Discrete Components)進(jìn)行功能測試。所有常見的模擬集成電路皆可以測試，系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測試，不需要編輯程序或參考電路圖。在AICT模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能，電路板或集成電路可在無電源供給的情形下，得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果。

 

 

綜合型基礎(chǔ)儀表模塊 (MIS)

 

在MIS儀表模塊中，提供了多種高規(guī)格的測試及量測用的儀表功能在同一模塊之中。此種設(shè)計方式，適合用于教育及一般用途的電子量測使用。其模塊提供了頻率/事件計數(shù)器，數(shù)字存儲式示波器，信號產(chǎn)生器，雙信道的數(shù)字電表，固定式電源供應(yīng)器及通用型的I/O接口。且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺功能，來設(shè)計客制化的儀器操作接口。

 

 

數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊 (VPS)

 

此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時所必要的電源。其具有三組可調(diào)式電源輸出，并同時具有過電壓及過載保護(hù)功能。

 

 

BM8500電路板故障檢測儀培訓(xùn)用電路板

 

一個訓(xùn)練有素的工程師會比一位新手在工作上來的有效率，這是眾所皆知的. 對于ABI的測試產(chǎn)品，為了讓ABI的客戶能夠有效的利用ABI的產(chǎn)品設(shè)備，其關(guān)鍵點就是要讓使用者認(rèn)識它所有的功能。就是因為抱持著這種態(tài)度，ABI已針對所有的客戶開發(fā)出完整的培訓(xùn)方式.

 

這個方式是針對BM8500此產(chǎn)品特別設(shè)計的電路板為平臺. 經(jīng)由電路板上不同的控制功能，來提供不同的故障現(xiàn)象，讓使用者學(xué)習(xí)到電子學(xué)的原理和獲取電路修復(fù)的知識技術(shù). ABI已提供培訓(xùn)人員一份以測試程序 (TestFlow)的形式所呈現(xiàn)的指南，內(nèi)容包含了詳細(xì)的說明及解釋.

 

此培訓(xùn)方式已在業(yè)界被廣泛的使用，其好處是在于用戶可以用自己的步調(diào)來培訓(xùn)自己或是工程人員，而可由此來應(yīng)用在其它的更廣泛的工作類型上. 而此培訓(xùn)方式也是許多在世界各地的大學(xué)或是技術(shù)學(xué)院教育課程的一部份.

 

 

標(biāo)準(zhǔn)的測試附件(夾具)

 

BM8500 提供全系列的測試線及夾具，適用于所有的產(chǎn)品模塊使用。

 

數(shù)字集成電路測試模塊的測試附件
1 x 64 way test cable
1 x 64 way split test cable
1 x BDO cable assembly
1 x short locator cable assembly
1 x ground clip
1 x PSU lead set
1 x V-I probe assembly

 

綜合型基礎(chǔ)儀表模塊的測試附件

 

2 x DSO probes
1 x yellow probe and cable
1 x blue probe and cable
1 x black probe and cable
1 x universal I/O cable (not terminated)
1 x 64 way test cable
1 x 64 way split test cable
1 x BDO cable assembly
1 x ground clip
1 x PSU lead set
1 x V-I probe assembly

 

模擬集成電路測試模塊的測試附件

 

1 x 24 way test cable
1 x 24 pin test clip
1 x yellow probe and cable
1 x blue probe and cable
2 x pulse leads
2 x ground leads
3 x discrete leads
1 x SMT tweezer set and adapters.

 

DIL Test Clips (0.3" gauge - 8, 16, 20, 24 pin, 0.6" gauge - 24, 40 pin) Automatic out-of-circuit adapter
40 pin ZIF socket for out-of circuit testing of ICs. SOIC and PLCC adapters available.

 

 

選配的測試附件(夾具)

 

MultiProbe Range (排針型測試探棒)
0.050" pitch 10 pin (SOIC and PLCC) and 0.100" pitch 8 pin (DIL).
PenProbe 4-piece Set (筆型測試探棒)
Type 1 (3 pin transistors, SOT23 and similar), type 2 (3 pin transistors, TO72 and similar), type 3 (3 pin transistors, TO220 and similar), type 4 (3 pin transistors, TO92 and similar)
SOIC test clip and cable set (表面粘著型集成電路夾具)
8,14,16 pin narrow and 20, 24, 28 pin wide
PLCC test clip and cable assembly (PLCC型集成電路夾具)
20, 28, 44, 52, 68 and 84 pin
QFP test clip and cable assembly (QFP型集成電路夾具)
100, 144, 160, 208 pin

 

 

Premier 操作軟件

 

 

此操作軟件是專為SYSTEM8 所設(shè)計的完整的控制軟件. 其內(nèi)部還提供了最先進(jìn)的測試演算. 其軟件可提供下列專業(yè)的軟件管理功能:

 

User access manager (使用者權(quán)限管理功能)
TestFlow automatic test manager (測試程序編輯功能)
Instrument design manager (儀器平臺編輯功能)
Instrument menu manager (儀器清單管理功能)
Custom calculator functions (自定計算公式功能)
Flexible data logger (數(shù)據(jù)記錄功能)

 

標(biāo)準(zhǔn)測試程序功能 (TestFlow)是整個SYSTEM8系統(tǒng)的主要概念，利用這種方式不僅加速了整個測試及故障定位的工作，另外，也可讓半熟練的工程人員來進(jìn)行操作.

 

標(biāo)準(zhǔn)測試程序功能 (TestFlow) 可以將電路板的故障定位工作，轉(zhuǎn)換成一個循序漸進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)程序，并降低量測的不準(zhǔn)確性并且記錄所有的量測參數(shù). 技術(shù)工程人員可以自行編寫一個標(biāo)準(zhǔn)的測試程序，或經(jīng)由TestFlow為特定的電路板設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)的量測步驟及記錄量測的結(jié)果. 工程人員也可以加入電路圖或?qū)嶋H的電路板圖片，甚至是加入一些指示來幫助檢測工作的進(jìn)行. 半熟練的工程人員只需要按步就班的依指示及圖示來操作設(shè)備，便可以完成所有的檢測工作.

 

標(biāo)準(zhǔn)測試程序功能 (TestFlow)可提供故障檢測記錄，可用來比對好壞電路板的差異性. 所有的測試點、測試方式、操作說明及報告結(jié)果及統(tǒng)計功能皆以一個容易遵循的格式呈現(xiàn).

 

PremierLink 軟件(選配)

 

PremierLink軟件是一個選配的軟件包. 它可以允許使用者自行建立新的測試集成電路到集成電路測試數(shù)據(jù)庫中，或是新增一個新的功能測試以配合新的電路板量測應(yīng)用.此軟件功能可以用來查詢已有的ABI集成電路數(shù)據(jù)庫的ASM程序，也可用此軟件專用的程序語言 (PLIP)來建立一個新的集成電路程序. 此程序語言是一個高階的程序語言，且適合用來編輯模擬和數(shù)字集成電路的測試程序.

 

集成電路數(shù)據(jù)庫的編輯功能及集成電路的參數(shù)定義.
PLIP高階程序語言可提供新一代的集成電路的功能測試.
可整合進(jìn)入SYSTEM8 的集成電路數(shù)據(jù)庫中.
具編譯功能(Compiler), 除錯功能(Debugger)及動態(tài)的訊息功能

 

 

BM8500 的使用場合為何?

 

隨著客戶由航空仿真器的制造商到重金屬工業(yè)公司，由集成電路制造商到科技大學(xué)及技術(shù)學(xué)院，BM8500及SYSTEM8 相關(guān)系列的產(chǎn)品，在每個技術(shù)領(lǐng)域及世上每一個角落，都在不斷的展現(xiàn)它功能的多樣性及不同應(yīng)的彈性. 有很多的維修中心都配備了BoardMaster以維時良好的維修完善率及維修能力，而這些維修中心的客戶廣泛的包含了: 電信、交通及一般的消費產(chǎn)品. 感謝全世界許多的經(jīng)銷合作伙伴及網(wǎng)絡(luò)，讓許多遍布全球的陸軍、空軍及海軍單位都在使用BM8500.

 

進(jìn)階應(yīng)用 : 大量及最終的在線測試應(yīng)用

 

BM8500 對于數(shù)量大及須保持高度質(zhì)量的電路板檢測工作，它可以提供最佳的檢測方案. 它的最終目的是在于確保電路板通過軟件的設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)，以確保整體的性能在標(biāo)準(zhǔn)之上. 我們可以利用不同模塊的特殊功能，來達(dá)到不同應(yīng)用的需求. 例如: 我們可以利用綜合型基礎(chǔ)儀器模塊 (MIS)來收集并紀(jì)錄所量測的數(shù)值波形，并利用數(shù)字集成電路測試模塊 (BFL)來提供電路板多個接點的控制信號，并經(jīng)由標(biāo)準(zhǔn)程序功能 (TestFlow)的軟件功能，來整合在一連串的量測流程之中，并將其量測所得的過程記錄成報告的形式，可供日后的數(shù)據(jù)檢核之用. 如果有任何的應(yīng)用問題，可以直接與ABI的技術(shù)人員進(jìn)行討論.

 

BM8500 的產(chǎn)品規(guī)格

 

Digital IC Test 數(shù)字集成電路測試功能

 

具128個量測信道 (64信道X2組模塊). 八組輸出隔離信號. 一組5V / 5A的電源供給輸出. 可進(jìn)行集成電路的功能測試、電壓量測、接腳連接測試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測. 內(nèi)建邏輯時序信號量測功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等. 并可針對數(shù)字邏輯位準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整，另外可自動定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對功能.

 

Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能

 

具有24組測試信道及外加一組的分離集成電路測試信道. 內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫可量測模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路. 可針對模擬集成電路進(jìn)行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓量測. 并具有自動定位集成電路接腳及電路狀比對功能.

 

Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測試功能

 

具128 量測信道 (64信道X2個模塊). 可調(diào)整量測信號電壓范圍. 針對數(shù)字集成電路可達(dá)到有效的量測結(jié)果.

 

Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測試功能

 

具有24 量測通道及外加二組獨立量測通道. 其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇量測波形功能. 并可選擇波形顯示模式: V-I、V-T及I-T三種顯示模式. 二組同步可變脈寬的信號輸出. 內(nèi)建量測線路補(bǔ)償功能. 具有外接盒可供選配.

 

Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能具有24組矩陣式的量測通道. 單一波形多重顯示的方式，并可直接進(jìn)行量測波形的比對功能，并以條狀圖的方式來顯示各信道信號的差異百分比.

 

Graphical Test Generator 數(shù)字時序編輯功能

 

具有128個信號信道可供編輯數(shù)字時序信號. 每個通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài). 并可讀取數(shù)字向量信號、并且儲存之后再進(jìn)行比對.

 

Floating Digital Multimeter 雙信道萬用電表功能

 

具二組自動換文件的量測通道，可量測DC及AC電壓信號達(dá)400V，可量測DC及AC電流信號可達(dá)2A. 阻抗量測可達(dá)20M奧姆. 各信道具有統(tǒng)計功能，可顯示最大值、最小值及平均值. 另外提供一組計算器，可針對所量測到的數(shù)值進(jìn)行實時的計算并記錄.

 

Universal I/O 通用型輸出/輸入信道功能

 

具有四組模擬信號信道及四組數(shù)字信號信道. 模擬信號信道可設(shè)定成為電壓輸出、電壓量測、電流輸出及電流量測四種工作模式. 其電壓范圍為 -9V to +9V，而電流范圍可達(dá)20mA. 數(shù)字信號信道可設(shè)定為輸出邏輯HIGH、邏輯LOW或是偵測目前信道的信號邏輯狀態(tài)，其輸出及輸入能力是以TTL位準(zhǔn)為標(biāo)準(zhǔn).

 

Short Locator 短路電阻量測功能

 

3具有三段低電阻量測范圍，可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.
Auxiliary Power Supply 固定型電源輸出功能
具三組固定式的電源輸出，分別為: 5V / 0.5A輸出，+9V / 100mA輸出及-9V / 100mA輸出. 各信道都具有電流值監(jiān)測功能.
Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能
邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V 并具有過電壓跳脫功能. 另外有可調(diào)式的正負(fù)電源輸出，其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V. 其輸出電流能力可達(dá)1A.